潘际刚,吴昌学,齐晓岚,李成,朱卫,刘宇,官志忠

摘要(Abstract)：

目的:探讨外源性硫化氢(H2S)对氟诱导损伤SH-SY5Y细胞的作用及其机制。方法:离体培养的SH-SY5Y细胞,分为Control组(不处理)、Na F组(Na F孵育48 h诱导损伤)、Na HS组(Na HS孵育48 h)、Na F联合Na HS组(Na HS预处理30 min后加2 mmol/L Na F孵育48 h);采用台盼蓝拒染法观察各组SH-SY5Y细胞存活率,采用光镜、相差显微镜及透射电镜观察各组SH-SY5Y细胞超微结构,采用流式细胞仪检测各组细胞的活性氧(ROS)水平。结果:Control组和Na F联合Na HS组SH-SY5Y细胞的存活率分别高于Na F组,差异均有统计学意义(P <0. 05); Na F组细胞器结构模糊不清、线粒体空泡变性增多,Na F联合Na HS组则形态结构明显得到改善; Na F组细胞ROS水平分别高于Control组和Na F联合Na HS组,差异均有统计学意义(P <0. 05或P <0. 01)。结论:外源性H2S参与对氟所致神经损伤的保护,可能涉及抗氧化应激机制。

关键词(KeyWords)： 硫化氢;线粒体;氟中毒;神经损伤;活性氧;SH-SY5Y细胞

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作者(Author): 潘际刚,吴昌学,齐晓岚,李成,朱卫,刘宇,官志忠

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